успешно
отправлено
Наши специалисты свяжутся с вами в кратчайшие сроки.
Оптическая схема SHR основана на дифракционной решетке Эшелле, работающей в высоких порядках спектра, и линейном датчике изображения, используемом в качестве детектора.
Прибор не содержит подвижных элементов; питание и управление осуществляется от компьютера через Full-Speed USB интерфейс.
В случае работы с импульсным излучением SHR может быть синхронизирован от Вашего лазера с помощью стандартного синхровыхода TTL-уровня.
Доставка анализируемого излучения к входной щели прибора может осуществляться посредством многомодового оптического волокна, волокна с диффузным аттенюатором-ослабителем (входят в комплект поставки), либо напрямую, без использования волокон.

Диффузный аттенюатор FA-3. Содержит два диффузных кварцевых стекла и разъем SMA-905. Аксиальная юстировка положения торца волокна относительно рассеивающих элементов
SHR позволит Вам быстро и без усилий измерять абсолютное значение длины волны как непрерывных, так и импульсных лазерных источников с великолепной точностью ± 3пм в пределах широчайшего спектрального диапазона 190-1200нм, а также определить полуширину спектральной линии с разрешением 30 000 (λ/Δλ, FWHM), что составляет от 6пм для УФ области спектра до 40пм для ИК области. SHR также обеспечит непрерывный мониторинг значений длины волны, полуширины, а также формы спектральной линии в процессе перестройки длины волны анализируемого излучения.
Программное обеспечение WLMeter позволяет проверить текущую точность измерений и при необходимости откорректировать ее с помощью лазера (к примеру, любого доступного He-Ne лазера с длиной волны 632,816нм) или любой спектральной линии с известной и постоянной длиной волны.
WL Meter также имеет уникальную функцию “Lines Array”, отслеживающую изменение центральной длины волны во времени при исследовании быстропротекающих процессов с записью массива результатов в файл для последующей обработки.
По разрешению и точности определения длины волны SHR является альтернативой монохроматору-спектрографу с фокусным расстоянием не менее 1000мм, снабженному соответствующим CCD-детектором. Но, в отличие от монохроматора, SHR не содержит движущихся элементов, является монолитным, стабильным и точным, обладает абсолютной надежностью и является более доступным по цене.
SHR напрямую не предназначен для анализа эмиссионных, рамановских и других населенных спектров (см. СПЕЦИФИКАЦИЮ, п. «Требования к ширине линии анализируемого излучения»), но с успехом может быть применен для анализа узких спектральных интервалов в пределах ширины спектрального порядка Эшелле – от 0,5нм для УФ области спектра (190 нм) до 18нм в ИК-области (1200нм), предварительно выделенных с помощью фильтра или любого монохроматора. Для этих целей может быть использован Светосильный короткофокусный монохроматор ML44.

СПЕКТРЫ, ЗАРЕГИСТРИРОВАННЫЕ С ПОМОЩЬЮ SHR

Рис. 1. Сигнальная длина волны параметрического генератора света λs=979.169нм, FWHM=0.605нм. Длина волны и полуширина каждого пичка может быть измерена независимо.

Рис. 2. ArF лазер 193.3нм может быть измерен как с помощью многомодового волокна, так и без него.

Рис.3 Перестраиваемый Ti:Sapphire лазер 700 нм. Длина волны и полуширина каждого пичка может быть измерена независимо.

Рис. 4 Перестраиваемый Ti:Sapphire лазер 890 нм. Длина волны и полуширина каждого пичка может быть измерена независимо.
Вы можете полностью доверять результатам измерения полуширины и формы линии, т.к. в случае, если полуширина анализируемой линии меньше собственной аппаратной функции прибора, SHR предупредит Вас об этом.
На рис.5 и 6 приведен пример измерения длины волны лазера Nd:YAG для двух режимов: свободной генерации и модулированной добротности.
В режиме свободной генерации ширина линии 1064нм меньше 40пм, т.е. меньше аппаратной функции SHR для этого диапазона, и SHR сообщает Вам об этом (см. Рис.5). В режиме модулированной добротности линия уширяется, и ее полуширина может быть с высокой точностью измерена с помощью SHR (см. Рис.6).

Рис. 5. Nd:YAG лазер, режим свободной генерации, λ = 1064.159 nm, FWHM<0.04nm.

Рис. 6. Nd:YAG лазер, режим модуляции добротности, λ = 1064.161нм, FWHM=0.077нм.
| Вес, кг |
2,6 |
|||
Параметр |
Значение |
|||
| Режим работы | непрерывное и импульсное излучение (внешняя синхронизация) | |||
| Спектральный диапазон работы, нм | 190 - 1100 | |||
| Точность определения длины волны, пм | ± 3 | |||
| Разрешение (λ/ΔλFWHM) | 30 000 (от 6 пм для 193 нм до 40 пм для 1200 нм, см. рис.1) | |||
| Требования к ширине линии анализируемого излучения, не более | ≤125 см-1 (от 0.5 нм для 193 нм до 18 нм для 1200 нм, см. рис.2) | |||
| Чувствительность | менее 0.5 мкВт на 632,8нм для минимального времени накопления 7 мсек | |||
| Оптический интерфейс | -волокно оптическое кварцевое диам. 400мкм, длина 1м, разъем SMA-905 | |||
| -диффузный ослабитель лазерного излучения FA-3 с разъемом SMA-905 | ||||
| Требования к внешнему синхроимпульсу (для импульсных лазеров): | ||||
| - полярность | Положительная | |||
| - амплитуда, В | 3 - 15 | |||
| - длительность импульса по полувысоте, мкс | 5 - 20 | |||
| - длительность фронта нарастания, мкс | ~ 10 | |||
| - разъем синхронизации | BNC-58 | |||
| Связь с компьютером | Full Speed USB интерфейс | |||
| Программное обеспечение | WLMeter | |||
| Габариты, мм | 165 х 215 х 90 | |||